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AS-100膜厚反射率测试仪器功能：
·光谱测量 在波长范围内进行透过率、吸光度和能量的图谱扫描,并可进行
各种数据处理如峰谷检测、导数运算、谱图运算等.
·数据输出 可进行数据文件和参数文件的存取,测量结果以标准通用的
数据文件格式输出
AS-100膜厚反射率测试技术参数
波长精度：0.2nm
校正线性度：99.8%
测量误差：1%以下
单次测量时间：最小100ms
功耗：200W
电源：210~245V，60Hz
信号接口：USB2.0
操作系统：windows
波长范围：200-1100 nm
数据传输速率：每4ms 一个全扫描入存储器(USB2.0 接口 )，18ms（USB1.1）
每300ms 一个全扫描入存储器(串行口)
探测器：3648 像素的线型硅CCD 阵列 8um × 20um
光栅：14 种光栅，波长从紫外到近红外
积分时间：10um～65min
入射孔径：宽5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狭缝或光纤(无狭缝)
光纤连接：SMA905 接口，与0.22NA 的单股光纤相连
各类滤波片：长波通或带通滤波片，安装在光谱仪内
电子控制：8 个数字GPIO 接口 电子快门控制（最短10um）
焦距：42 mm（输入）， 68 mm（输出）
光学分辨率：0.3 nm FWHM（与光栅和狭缝宽度的选择 有关）
动态范围：2×108（系统），1300:1（单个扫描信号）
AS-100膜厚反射率测试主要特点：
·全新设计的优良的光学系统,高性能的全息闪耀光栅,确保了仪器的低杂散光.
·双光束测光系统,配合设计先进的电路测控系统.使仪器具有高度的稳定性和
极低的噪声.
全自动的控制系统,先进的设计理念,确保仪器具有高可靠性和高稳定性.
·可拆卸结构的样品室设计,易于更换不同的附件.以满足不同的分析需求.
·宽敞型开放式光源室设计,使灯源更换更加方便.
· windows 环境下开发的中英文操作软件,具有多项专利技术.提供了丰富的独具特色的分析功能.
